本书在已有量子理论的基础上，采用了广义Hellman-fevnman定理、正则变换、名正变换以及Lewvis-Riesenfeld不变量理论等方法对无耗散介观耦合电路中的里子效应、耗散介观耦合电路中的里子涨落、介观耦合电路中的库仑阻塞效应，以及热态下介观耦合电路中的量子效应等问题进行了分析、归纳和研究，进一步认识介观尺寸下的量子效应的特征和规律，在为微电子器件和集成电路的优化设计提供理论指导的同时，也对其在相关领域的应用研究具有重要的参考价值。