本书在分析总结了国内外有关测量专利分散及应对专利分散的基础上, 提出了利用分形理论等方面来测量专利分散程度, 着重分析了国内外测量专利分散方法的优缺点, 具体说明利用分形理论测量专利分散的优势所在, 并且以我国LED产业为例来验证专利分散现象, 提出解决专利分散的措施。